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半導(dǎo)體壓縮空氣標(biāo)準(zhǔn)是多少

2025-03-19閱讀量:

半導(dǎo)體制造中,壓縮空氣的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)極為嚴(yán)格,需同時(shí)滿足潔凈度、化學(xué)純度和穩(wěn)定性要求。以下是關(guān)鍵參數(shù)及依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn):

1. 核心標(biāo)準(zhǔn)體系

  • ISO 8573-1:2010(壓縮空氣雜質(zhì)等級(jí))
    • 含油量:需達(dá)到 Class 0(完全無(wú)油,殘留量≤0.01 mg/m³)。
    • 水含量:露點(diǎn)溫度≤-40°C(部分工藝要求-70°C以下)。
    • 顆粒物:需符合 ISO 8573-2 Class 1(0.1μm以上顆粒物≤200粒/m³)。
  • SEMI標(biāo)準(zhǔn)(國(guó)際半導(dǎo)體設(shè)備與材料協(xié)會(huì))
    • SEMI F58-0701:規(guī)定氣體和液體純度,要求總含硫量≤0.1 ppm,無(wú)硅氧烷污染。

    • SEMI C1.3:針對(duì)晶圓傳輸系統(tǒng),壓縮空氣需通過(guò)高效過(guò)濾器(HEPA級(jí))。

2. 關(guān)鍵參數(shù)詳解

 

參數(shù) 半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 檢測(cè)方法
含油量 ≤0.01 mg/m³(ISO 8573-1 Class 0) 紅外光譜法(FTIR)
顆粒物 ≤0.1μm(ISO 14644-1 Class 5) 激光粒子計(jì)數(shù)器
露點(diǎn)溫度 ≤-40°C(部分工藝需≤-70°C) 鏡面冷凝露點(diǎn)儀
總含硫量 ≤0.1 ppm 火焰光度檢測(cè)(FPD)
微生物控制 ≤1 CFU/m³(部分潔凈室要求) 撞擊式微生物采樣器
化學(xué)殘留 無(wú)硅氧烷、氯離子、重金屬 氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(GC-MS)

3. 應(yīng)用場(chǎng)景與特殊要求

  • 晶圓傳輸與機(jī)器人
    • 需無(wú)油、無(wú)塵壓縮空氣驅(qū)動(dòng)氣缸,避免微粒劃傷晶圓表面。
  • 光刻與蝕刻工藝
    • 壓縮空氣用于鏡頭清潔或反應(yīng)腔室隔離,需控制總有機(jī)碳(TOC)≤50 ppb。
  • 化學(xué)氣相沉積(CVD)
    • 壓縮空氣作為載氣時(shí),需額外檢測(cè)CO?、NOx含量(通常要求≤1 ppm)。
  • 潔凈室環(huán)境控制
    • 正壓通風(fēng)系統(tǒng)使用壓縮空氣時(shí),需符合ISO 14644-1 Class 5潔凈度。

4. 系統(tǒng)設(shè)計(jì)要點(diǎn)

  • 無(wú)油空壓機(jī):采用水潤(rùn)滑或PTFE涂層技術(shù),避免油污染。

  • 多級(jí)過(guò)濾:配置活性炭過(guò)濾器(去油蒸氣)、超精密過(guò)濾器(0.01μm級(jí))。

  • 管道處理:使用電解拋光不銹鋼管(Ra≤0.4μm),焊接連接減少泄漏。

  • 實(shí)時(shí)監(jiān)控:安裝露點(diǎn)傳感器、油蒸氣檢測(cè)儀,數(shù)據(jù)可追溯(符合FDA 21 CFR Part 11)。

5. 驗(yàn)證與認(rèn)證

  • 第三方測(cè)試:由權(quán)威機(jī)構(gòu)(如SGS、TÜV)出具符合性報(bào)告。

  • 周期性驗(yàn)證:每季度檢測(cè)含油量、露點(diǎn)及顆粒物,每年全項(xiàng)分析。

半導(dǎo)體壓縮空氣標(biāo)準(zhǔn)需貫穿設(shè)備選型、系統(tǒng)設(shè)計(jì)及運(yùn)維全流程,其嚴(yán)格性旨在避免工藝污染,確保良品率。隨著制程節(jié)點(diǎn)推進(jìn)(如3nm以下),未來(lái)可能對(duì)納米級(jí)顆粒物及新型化學(xué)污染物提出更高要求。

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